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    M-Z光學(xué)干涉儀

    M-Z光學(xué)干涉儀

    • 產(chǎn)品型號:
    • 更新時(shí)間:2023-03-14
    • 產(chǎn)品介紹:M-Z光學(xué)干涉儀通過(guò)比較被測物和參考物的相位(表現為條紋的變化),從而實(shí)現被測物的物理量的測量。
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    產(chǎn)品介紹

    M-Z光學(xué)干涉儀產(chǎn)品說(shuō)明:

    馬赫-曾德干涉儀屬于一種等光程比較干涉。通過(guò)比較被測物和參考物的相位(表現為條紋的變化),從而實(shí)現被測物的物理量的測量。馬赫-曾德干涉儀通常用于測量透明介質(zhì)折射率的微小變化,可用于氣體、液體、透明固體、沖擊波及熱傳導等方面的研究。

    M-Z光學(xué)干涉儀技術(shù)參數:

    參數

    大值

    小值

    備注

    視場(chǎng)

    Φ500mm

    Φ50mm

    干涉條紋間距

    無(wú)窮大

    0.1mm

    圖像分析軟件

    滿(mǎn)足干涉條紋背景濾波、二值化、細化與修像、標記、采樣讀數、物理參數計算讀取等功能

    成像傳感器

    數碼單反相機、高速相機、記錄干板

    光源

    532nm激光光源、632.8nm激光光源

    其他

    系統采用有效的減振方式



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